Lo spettrometro di fluorescenza a raggi X a dispersione di energia è realizzato analizzando la caratteristica lunghezza d'onda dei raggi X e l'intensità degli elementi emessi dal campione. Gli elementi contenuti nel campione sono determinati in base alla diversa lunghezza d'onda caratteristica dei raggi X dei diversi elementi. Il contenuto di elementi nel campione può essere determinato confrontando l'intensità delle righe spettrali di diversi elementi. EDX viene solitamente utilizzato in combinazione con un microscopio elettronico, che consente l'analisi dei microcomponenti del campione.
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Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia
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Caratteristiche del prodotto e applicazione dello spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia
1.Utilizzando il rivelatore Si-PIN ad alte prestazioni di raffreddamento elettrico degli Stati Uniti, alta risoluzione, ampio raggio di rilevamento, che copre RoHS, alogeno, rivestimento, lega (compresi i metalli preziosi) e una varietà di analisi dei materiali convenzionali dei requisiti di base.
2. Dotato del più avanzato processore integrato di segnale multicanale digitale DPP, ha prestazioni migliori rispetto al normale processore di segnale multicanale analogico, specialmente nell'alto tasso di conteggio ha una migliore risoluzione (come Hg e Cl, ecc.), la velocità di trasmissione dei dati fino a 80 MHz riduce il tempo di analisi, migliora la ripetibilità della misurazione e la stabilità a lungo termine.
3. Sistema di telecamere HD integrato, osservare chiaramente il campione, individuare con precisione l'area di prova del campione.
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Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia
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